Materiali Metallici

M. Cavallini, V. Di Cocco, F. Iacoviello

dei microscopi elettronici a scansione (SEM: scanning electron microscope ) e a trasmissione (TEM: transmission electron microscope). Nel microscopio ottico il campione è illuminato dalla sorgente luminosa e riflette la luce attraverso l’obiettivo a formare l’immagine osservata attraverso l’oculare. I microscopi elettronici sono strumenti più complessi perché hanno bisogno di una sorgente di elettroni, di un sistema da vuoto che permetta al fascio di elettroni di illuminare il campione e di un insieme di apparecchiature in grado di rilevare gli elettroni e le radiazioni da loro emesse a seguito dell’interazione con il campione. Nel SEM il fascio di elettroni e di raggi X permette di visualizzare l’aspetto e la composizione chimica della superficie; nel TEM il fascio di elettroni attraversa il materiale finemente assottigliato e permette di “vedere” in trasparenza il campione opportunamente trattato.

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